行業(yè)案例 | 宇電多回路溫控器品質(zhì)卓越，滿(mǎn)足半導體制造多樣化測試需求
隨著(zhù)半導體產(chǎn)業(yè)走入芯片融合時(shí)代，工藝和應用的復雜度不斷提升，想要生產(chǎn)出好的產(chǎn)品，“測試先行”尤為重要。測試設備主要用于半導體制造過(guò)程中檢測芯片性能與缺陷，幾乎每一道工藝完成后都要進(jìn)行，其中高精度溫度控制貫穿于整個(gè)測試環(huán)節的始末。
宇電合作伙伴中，江蘇某高端測試儀器和設備供應商，專(zhuān)業(yè)從事光網(wǎng)絡(luò )測試、光芯片測試、電性能測試和功率芯片測試。自2020年起，激光器芯片老化測試需求激增，對溫控器品質(zhì)和性能的要求更苛刻，一直在尋求激光器老化設備的理想溫控解決方案。
通過(guò)對比驗證，宇電AI-7548D71溫控器在控制效果、通訊速度、安全性與穩定性方面完全滿(mǎn)足該設備供應商在不同測試場(chǎng)景下的多樣化需求。提升測試結果的準確性和可靠性。
客戶(hù)評價(jià)：“我們曾在設備上進(jìn)行過(guò)不同品牌溫控系統的控制測試。結果顯示，宇電AI-7548D71溫控模塊的控制效果明顯優(yōu)于其他品牌，與國際品牌控溫效果一致。”
宇電多路溫控器全面提升設備控制品質(zhì)
激光器老化測試設備的溫度一般為40-150℃，芯片對溫度變化極為敏感，任何微小的波動(dòng)將對測試結果產(chǎn)生顯著(zhù)影響，宇電制定的溫度控制方案為設備生產(chǎn)商解決生產(chǎn)難題。
高精度溫控，提高篩選不良品效率
宇電AI-7548D71溫控器搭載的高精密APID自整定自適應算法，將外部干擾引起的溫度波動(dòng)控制在最小限度內，提供穩定測試環(huán)境，幫助設備商篩選出，因溫度極端變化導致的焊料老化、分層、鍵合線(xiàn)脫落、斷裂的不良芯片。
多通道獨立控制，功能靈活
老化設備同時(shí)測試多顆芯片，需要對每個(gè)測試夾具中的溫度進(jìn)行單獨控制，觀(guān)察芯片在極端環(huán)境中的表現。
宇電AI-7548D71溫控器具有多通道獨立控制功能，靈活性強，確保每個(gè)芯片都能在其特定的溫度條件下進(jìn)行測試，進(jìn)一步提高測試的準確性和可靠性。
精巧設計，節省安裝空間
為提高結果準確性，要在大量樣本上進(jìn)行測試，溫控點(diǎn)位增多，而老化測試設備集成度高，柜內空間有限。宇電AI-7548D71溫控器設計精巧，寬度僅22.5mm，單臺儀表集成4路控制功能，節省寶貴的安裝空間。
結語(yǔ)
宇電AI-7548D71工業(yè)溫控器除應用在半導體制造環(huán)節，還可應用于如鋰電等多種行業(yè)，降本增效，節約能耗，實(shí)現價(jià)值最大化。
隨著(zhù)全球對芯片需求的激增，晶圓廠(chǎng)、設備商和供應鏈的所有環(huán)節都在不斷優(yōu)化工藝，利用新技術(shù)盡可能提高產(chǎn)能和品質(zhì)。宇電將繼續與工業(yè)客戶(hù)緊密合作，利用先進(jìn)的溫控技術(shù)幫助客戶(hù)縮短測試周期，持續提升測試良率，優(yōu)化成本控制，幫助客戶(hù)在激烈的市場(chǎng)競爭中脫穎而出，用科技賦能半導體等行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。